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GS-191 AR膜测试方案

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Gamma Scientific的反射和透射测量系统可在抛光基板上提供逆反射,薄膜涂层的快速光谱测量,用于测量不同样品的镜面和慢反射测量系统。

特点

- 完整的光谱分析

- 测试涂层均匀性和颜色

- 研发或生产的全周期测试

系统类型

- 全自动集成生产线反射测量

- 半自动可编程X-Y平台,用于快速检测,研发,质量保证

- 桌面和手持系统 - 主要用于研发或小规模研究

应用

- 平板显示器玻璃

- 逆反射(AR)涂层检测

- 触摸屏显示屏

- 光学滤光片/镜片涂层

- 物理气相沉积涂层检测(PVD)

AR膜/涂层透反射测量系统

AR膜/涂层透反射测量系统

 

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